С помощью новейших микроскопов исследователи смогли изучить атомную структуру материала, не повреждая ее.
Ученые из Национальной лаборатории Министерства энергетики им.
Лоуренса Беркли опубликовали в журнале Nature Communicationsисследования, показывающие, как метод 4D-STEM позволяет использовать электронную микроскопию для изображения мягких материалов, не разрушая их, пишет Face.
И фотографии, полученные в результате их исследований, просто великолепны.
Исследование Nature Communications было сфокусировано на использовании 4D-STEM для изображения объемного металлического стекла, которое имеет непредсказуемую молекулярную структуру.
Это позволило исследователям выявить слабые точки материала в атомном масштабе.
В конечном итоге даже такие крошечные несовершенства могут привести к его разрушению под воздействием напряжения.